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最新产品 > 物理分析仪器 > 热分析仪器 > 热成像仪>福禄克热成像仪Fluke Ti50
更新时间：2025-12-27 00:30:44 点击：417次
| 产品型号 | Ti50 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 热成像仪 |
| 品牌 | 返回顶部 Fluke/福禄克 |
| 产地 | 返回顶部 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 温度测量范围 | 返回顶部 校准温度范围： Ti55: -20 ˚C to 600 ˚C (-4 to 1112 ºF) in 3 ranges Ti50: -20 ˚C to 350 ˚C (-4 to 662 ºF) in 2 ranges 量程1： Ti55: -20 ˚C to 100 ˚C (-4 to 212 ºF) Ti50: -20 ˚C to 100 ˚C (-4 to 212 ºF) 量程2： Ti55: -20 ˚C to 350 ˚C (-4 to 662 ºF) Ti50: -20 ˚C to 350 ˚C (-4 to 662 ºF) 量程 3： Ti55: 250 ˚C to 600 ˚C (482 to 1112 ºF) |
| 温度分辨率热灵敏度（NETD） | 返回顶部 Ti55: ≤ 0.05 °C at 30 °C Ti50: ≤ 0.07 °C at 30 °C |
| 温度测量精度 | 返回顶部 ±2 °C or 2 % |
| 工作波长 | 返回顶部 8 µm to 14 µm |
| 空间分辨率/（IFOV） | 返回顶部 1.30 mrad |
| 对焦距离 | 返回顶部 最小聚焦距离* ：0.15 m |
| 能否自动聚焦 | 返回顶部 否 |
| 图像处理功能 | 返回顶部 数字图像增强： 自动全时增强 |
| 探测器 | 返回顶部 320 x 240焦平面阵列, 氧化钒 (VOx) 非冷却微型测辐射热仪并带有25微米螺距 |
| 数字变焦 | 返回顶部 Ti55: 2x, 4x, 8x Ti50: 2x |
| 显示器 | 返回顶部 5英寸大屏幕彩色显示屏 |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
美国福禄克Fluke Ti50 热成像仪是追求最高灵敏度的专业人士的理想选择 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | FT系列产品采用最新的IR-Fusion™技术, IR-Fusion可捕获可见光图像和红外图像,让IR图像分析变得不再神秘.它可以帮助更好的识别和报告可疑组件,可在第一时间完成完成维修工作.详情请查看位于本页内容导航部分的IR-Fusion选项. Fluke Ti50 热成像仪的应用领域 • 预防性维护 – 在电气和机械问题导致设备故障前及时发现问题 • 能源/电力设施 - 变电站,输电线路和设备的实时分析 • 过程监控 – 实时监控,确保操作高效安全完成 • 产品研发 - 对热模式进行量化,从而改进产品设计 • 电子设计 - 进行深入电路板分析 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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| 相关仪器 | 返回顶部 此仪器尚未有相关仪器 |
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