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最新产品 > 物理分析仪器 > 热分析仪器 > 导热系数测定仪>湖南振华HCX09A 薄膜热物性测试仪
更新时间：2024-04-28 14:43:58 点击：354次
| 产品型号 | HCX09A |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 导热系数测定仪 |
| 品牌 | 返回顶部 湖南振华 |
| 产地 | 返回顶部 中国大陆 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 测量方法 | 返回顶部 温度波法 |
| 导热系数测试范围 | 返回顶部 0.05～20w/m·k |
| 试样尺寸要求 | 返回顶部 圆柱体￠15--30*5--30mm |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态 下进行。根据物体表面温度按余弦(或正弦)规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态 下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。 返回顶部 |
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