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最新产品 > 物理分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 光学显微镜>LWZ300-4JT正置金相显微镜 测维光...
更新时间：2025-12-28 15:42:13 点击：69次
| 产品型号 | LWZ300-4JT |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 光学显微镜 |
| 品牌 | 返回顶部 测维光电 |
| 产地 | 返回顶部 中国大陆 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 普通目镜 | 返回顶部 超平场目镜 ：10X ，f22mm；平场目镜 ：16X ， f15mm；平场目镜 ：20X ，f11mm |
| 聚光照明系统 | 返回顶部 滤色片组：黄色、蓝色、绿色、磨砂。 偏光装置：可插入式起偏振片和检偏振片 |
| 复消色差物镜 | 返回顶部 放大倍数：4X，10X，20X，40X，60X，80X，100X数值孔径：0.10，0.25，0.40，0.60，0.85，0.85，0.85 工作距离(mm)：7.18，4.7，0.8，0.72，0.6，0.96，0.35 |
| x轴移动测量范围 | 返回顶部 75mm |
| y轴移动测量范围 | 返回顶部 50mm |
| 照明装置 | 返回顶部 落射 12V50W卤素灯，亮度可调。 透射 12V20W卤素灯，亮度可调。 |
| 电源 | 返回顶部 电源电压：110-220V 50/60Hz |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
LWZ300-4JT(APO)高清晰正置金相显微镜适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于 电子工业行业作晶体，芯片及新材料等高反射低衬度试样的检验与分析。 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
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| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
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