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最新产品 > 物理分析仪器 > 力学性能测试仪器 > 接触角测量仪>美国Rame Hart接触角测定仪400型R...
更新时间：2024-04-29 01:17:39 点击：435次
| 产品型号 | Model 400 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 接触角测量仪 |
| 品牌 | 返回顶部 Rame Hart |
| 产地 | 返回顶部 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 测试精度 | 返回顶部 +/- 0.10° |
| 测试分辨率 | 返回顶部 0.1° |
| 摄像系统 | 返回顶部 IEEE1394a FireWire, 1/2” CCD, 400Mbps, 60fps, 逐行扫描 |
| 平台尺寸 | 返回顶部 直径8 in (203mm) |
| 接触角测试范围 | 返回顶部 0-- 180° |
| 电源 | 返回顶部 110 或220 VAC |
| 仪器重量 | 返回顶部 24lbs /11kg（不包括电源） |
| 仪器尺寸 | 返回顶部 24 x 20 x 10 in (6100x500x250mm) |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
Ramé-hart Model 400 (p/n 400-F1) |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 400型接触角测定仪的设计可供半导体薄膜使用，其中包括8个旋转晶片（200毫米晶片的尺寸最为理想）。该设计包含21“量角器和F1系列数码相机，并且极易升级以便使用更大尺寸的晶片（直径达到12in）或更小尺寸的晶片(4in)。 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
| 相关视频 | 返回顶部 此仪器尚未有相关视频 |
| 相关耗材和配件 | 此仪器尚未有相关耗材和配件 返回顶部 |
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| 网友评分 |
评分：
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