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最新产品 > 化学分析仪器 > X射线仪器 > X射线衍射仪>X射线衍射仪 MMA
更新时间：2024-04-25 20:19:11 点击：377次
| 产品型号 | MMA |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 X射线衍射仪 |
| 品牌 | 返回顶部 |
| 产地 | 返回顶部 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 稳定性 | 返回顶部 0.005% 全负载变化，0.005% for 10% rms线性变化 |
| 功率 | 返回顶部 230 VAC±10% |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
仪器简介：X射线衍射仪 MMA带来了真正称得上是“材料分析器”的衍射仪。 优异的性能包括： ● 可变平行光束和聚焦几何尺寸 技术参数： |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 1.织物—利用多毛细管光学系统的平行光束几何设计提高强度10倍，粒子统计学效果改善20倍(Schulz准直仪的照射面积为5 mm2，而多毛细管光学系统的照射面积为100 mm2)，无需更换样品台。 2.薄膜—多毛细管光学系统具有内在的达到约0.3度的准直作用，因而在小角度测量时具有优异的性能，灵敏度提高5倍左右，无需狭缝，也可以使用光缝来限制照射的面积。 3.粉末，平行光束模式—无需聚焦，所以无需固定样品高度，可以分析粗糙不规则的样品，每个谱峰都进行校准，大角度时谱峰强度提高10倍。 4.粉末，聚焦模式—高分辨率聚焦扫描，粉末样品台以三角支架固定安装，高度精确可调。 5.残余应力—细线Eulerian Cradle能达到155度，依然有很好的聚焦，峰形没有延迟，可以获得更好的谱峰质心测量，谱峰强度更高，其统计学效果更好，测量更快。 返回顶部 |
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