仪器简介：

X-MET5100 手持式 X 射线荧光光谱仪保证了铝及钛合金的实验室质量分析的精确性，它对检测铜、镍和钢等金属材料中含有的轻金属元素时的敏感性也是无与伦比的，无需借助复杂的真空泵或氦气罐等附属设备就可对镁、铝、硅等轻元素进行测量。
硅漂移 (SDD)、45 千伏 X 射线管和经验系数分析方法的强大结合，意味着 X-MET5100 可以在短短 1 秒钟内，准确地分析和确定金属合金成分。受限物质（重金属元素）、玩具中的铅、土壤中的污染物和矿石中的微量物质可以得到准确测量，其速度之快，在从前是绝无可能的。在几秒钟之内，就可以得到 ppm 级的痕量元素检测结果。 这款坚固的便携式 XRF 轻元素测试工具，专为以下行业应用而设计： -金属材料可靠性鉴定（PMI） -废旧金属回收行业 -环境重金属监测（土壤和RoHS） -航空和汽车工业 -矿石勘察、现场挖掘控制和矿山制图 -X-MET 面向土壤分析的光谱仪 -可对重金属进行快速现场分析 -分析含量低于 100 ppm 的镉、铅、汞。

只需扣动开关,X-MET5100 X 射线荧光 (XRF) 分析仪就能进行快速、精确的现场样品筛选及分析，将昂贵的实验室检测需求最小化。X-MET具有 GPS 集成装置，可实现测量数据与位置坐标的实时关联。 能准确、可靠地鉴定重金属元素污染物质 -数秒内完成对“可疑污染区域”的分析 -数据可轻松地传输至电脑，确保最大程度地提高现场工作的效率，并减少错误 -预先分拣已污染的土壤，以便将土壤修复的费用降到最低 -可立即做出关于土壤修复的判定 -通过用户可编辑界面显示的合格/不合格警告，可进行快速而可靠的Go/No-Go 决策高速现场检测 可快速、简便地进行现场筛选分析 -直接从地面获取样品 -放入样品袋内进行分析 -通过在“台式”工作模式下检测 准备好的样品，提供具有实验室品质的分析数据 -可分析任何样品类型，包括土壤、岩石、泥土、腐殖质、沙子、粉尘、液体等硅漂移探测器技术大大提高生产力.
最先进的 X-MET5100 将牛津仪器的硅漂移 (SDD)和强大的45千伏 X 射线管结合起来，显示了仪器设计上的革命性突破。与普通设备相比，应用该项尖端技术能使测量速度提高5倍，进一步优化检测极限并显著提高测量精度。
仪器坚固、可靠，可实现快速而精确的分析可经受所有天气条件和恶劣操作环境 -经 IP54 (NEMA 3) 认证，一流的防尘与防潮特性 -高强度的环境密封型外壳 -电池可提供长效的操作时间，电量指示器位于电池及用户界面上高性能快速、同时分析重元素：铅、砷、铬、铜、锌、镍、镉、钴、硒、钼、汞、锑、银、钡等的含量 -可分析样品中的铝、硅、磷、硫元素，无需借助真空或氦气。(X-MET5100) -一般情况下，根据所需测试的元素和所要求的精度不同，可在 10 - 30 秒内(X-MET5000) 或 2 - 5 秒内 (X-MET5100)迅速完成测试 -检测下限低，X-MET5000 通常可用 120 秒的测量时间检测 5 - 30 ppm 的浓度。X-MET5100 具有更低的检测下限，只需在10 - 30 秒内即可完成浓度 ppm 水平分析 -可以检测所有 EPA6200 限制的 26 种元素 -高效批量鉴定功能—自动计算 2 - 50 个测定值的平均值，并在测试日志文件中同时保存单个检测结果和平均检测结果不同分析模式供选择 -仪器简单易学 -用户界面支持语言超过 10 种 -方便的数据存储与输出 -基于 PDA 技术的灵活性 -经 CE, cCSAus 认证配备工作台支架与便携样品袋适配器 -提高测量精度 -更低检测下限 -优化的测量精度 -操作员可选的舒适位置.

技术参数 ：
激发源:X射线管，铑（Rh ）阳极靶，电压45K V，管电流最50微安
操作系统:HP掌上电脑,Windows Mobile5.0
冷却系统:PentaPINTM高分辨率Si-PIN探测器
电源:锂在手柄内，使用时间6h
样品表面:最高可测400℃的零部件
电池充电器:交流
充电器：110/220V，50/60Hz
计算机/显示器:320×240 LCD彩显，65,536像素，在任何背景光线下都可显示测量结果
测量模式:定量分析与牌号鉴定,直接光谱鉴定,合格/不合格鉴定
数据存储:内存128MB，最小1G 移动储存,储存的数据和光谱>1 00 ,0 0 0条
安全:密码保护，设有多级安全锁 运输箱:减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言:中、英文在内的12语言(用户自选)
证书:CE、TUV、ISO9001、IECEE、IP54.NEMA3
辐射安全装置:红外样品位置感应装置，三位操作警示灯
检测时间:2-5秒显示牌号，5-10秒显示全部元素

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