仪器简介：
 
X射线显微分析是一种在电子显微镜中经常用到的测量固体样品、薄膜、微粒化学成分的分析技术。该技术应用一种能量色散X射线光谱仪(EDS)能同时探测和分析低至Be的所有元素。该技术从一个微米级的样品区域获得元素信息，提供低至0.1%质量百分数的检出限，这些特性使得X射线显微分析成为最灵敏的分析方法之一。
该x射线能谱仪独一无二的X-Flash® 硅漂移探测器(SDD)与顶级的Hybrid 脉冲处理技术相结合能获得最佳的能量分辨率和比常规Si(Li)探测器快十倍的测量速度。
该x射线能谱仪配有界面友好、功能强大的ESPRIT软件。该软件标配中、英文界面。应用该软件可进行无标样定量分析，和有标准定量分析，或二种方法结合使用。另外，还可进行点、线、面分析，线扫描，面分布，超级面分布，相分析，颗粒分析，钢铁分析，枪击残留物分析等等。 
 
QUANTAX ESPRIT软件包
直观的图形用户界面显示了所有对分析者而言重要的信息，分析人员一目了然，并可以立即进入最常用的功能。
简单的操作理念和直观的向导，集成的 "助手"功能，完整的在线帮助，使初学者能很快熟悉分析系统。
该软件交互式、循序渐进式的谱图评价程序对分析者而言尤其重要，尤其是对于非常复杂的分析任务来说。
而且，该软件包集成了全球最新修订扩展的原子数据库，一些重要的基本参数有助于提高定性和定量分析的精度。
该分析软件的高效性、灵活性和透明性使用户能很快信服并对之满意。
 

技术参数：
QUANTAX系列探测器种类：X-Flash® SDD硅漂移探测器
* 具有无液氮、高分辨率、高输出计数率三大特点。
* X-Flash® 是首个商用的SDD探测器。
* 采用二级Peltier效应的电致冷方式保证探测器长期稳定工作，而不需要任何制冷剂和外部制冷设备，同时也避免了其他机械制冷方式可能引起的振动。
* X-Flash® 的能量分辨率指标在1000cps~100,000cps的输入计数率条件下，可以保持在Mn元素Ka分辨率≤123eV，F元素分辨率≤54eV，C元素分辨率≤46eV，这一革命性的123eV分辨率使X-Flash® SDD探测器在轻元素的探测和定量分析方面具有显著的优势。
* 即使是在非常高的输入计数率情况下，X-Flash® 仍然具有很高的分辨率，因此在进行面扫描时，采用X-Flash® 比采用常规的Si(Li)探测器节省几个量级的时间。
* 绝对无振动，具有低的维护和操作费用，体积小、重量轻。
* 采用混合脉冲信号处理器使得本系统可处理更高的计数率。最大输入计数率达1000,000cps，最大输出计数率达400,000cps。
 
ESPRIT分析软件界面友好，操作简便
* 具有包含XPP特例的P/B(ZAF)方法的无标样定量分析功能可对粗糙、颗粒等不同表面形貌样品进行精确的定性定量分析。
* ESPRIT分析软件具有最丰富的原子信息数据库，这可以大大提高仪器的元素鉴别能力和重叠峰剥离能力，使得定量分析变得更加精确可靠。
* 根据韧致辐射的物理模型计算背底，OLeQ分析功能可大大提高轻元素定量分析的准确性。
* 提供更快速和准确的实时线扫描和面扫描分析功能，对元素种类和数目无限制并可达到65536种颜色的面扫描效果。

QUANTAX系列探测器的接口是针对每一款电镜单独定制的，因此可以适用于各种型号和品牌的SEM、TEM、EPMA、AES等，并且能够达到最优化的立体角和检出角。

评分：

（1名网友评分）