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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜>美国FEI 200kV场发射透射电子显...
更新时间：2024-04-22 03:08:50 点击：7121次
| 产品型号 | Tecnai G2 F20 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 透射电镜 |
| 品牌 | 返回顶部 FEI |
| 产地 | 返回顶部 荷兰 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 点分辨率 | 返回顶部 U-TWIN 0.19nm ; S-TWIN 0.24nm ; X-TWIN 0.25nm ; TWIN 0.27nm |
| 加速电压 | 返回顶部 20-200kV,连续可调 |
| 样品最大倾角 | 返回顶部 S-TWIN +/- 40o ; TWIN +/- 70° Tomography样品杆 +/- 70o |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
仪器简介： Tecnai G2 F20是一个真正多功能、多用户环境的200kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合, 形成强大的分析功能, 而在同类型仪器中独占鳌头。任务导向型用户界面和自动采集数据功能, 使用户从必须首先成为电镜专家才能获得理想结果的压力中解放出来, 使他们专注于自己的研究工作。Tecnai G2的“完全一体化”概念允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。
1.信息分辨率极限 |
| 应用文章 | 返回顶部 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 主要特点： 1.高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米分析 2.所有的先进分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、电子衍射、EFTEM、EDS和EELS频谱图、全息技术和Lorentz透镜技术、三维重构技术、低剂量曝光技术、冷冻电镜技术 3.多用户环境下的方便和安全操作 4.适用于大量样品的快捷分析 5.将来技术, 今日应用 6.基于Windows XP操作系统的用户界面 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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| 相关耗材和配件 | 此仪器尚未有相关耗材和配件 返回顶部 |
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