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更新时间：2024-03-30 09:15:24 点击：2855次

产品简介
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技术参数

产品型号	ESCA+
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部电子能谱仪
品牌	返回顶部 Omicron NanoTechnology GmbH
产地	返回顶部德国
	返回顶部我来纠错（有奖）
技术参数
真空度	返回顶部好于3x10-10mbar
其他信息
产品简介	仪器简介： ESCA+的设计针对现在和将来用户对于稳定和性能的要求，兼具简便的操作和高性能的XPS。 ESCA+结合了Omicron在纳米分析领域的经验和最新的技术，可以满足所有常规表面分析对ESCA的要求。包括最先进的XPS电荷中和技术和Zalar^TM深度分析在内，ESCA+满足了快速准确定量XPS的所有先决条件。系统的设计不仅针对XPS市场上最好的溅射深度分析，同时还为非破坏性角分辨XPS进行了优化。技术参数： 1.普通光源分辨率 6,500,000cps (MgKα 1.40eV Ag3d5/2峰) 2.单色光源分辨率 210,000cps (AlKα 0.60eV Ag3d5/2峰) 3.单色X射线线宽小于250meV，最大功率600W 4.XPS分析区域直径可小于70μm 5.一次进样可容纳5个25mm直径样品或两个50mm直径样品 6.可对样品原位升温、降温，温度范围120K至800K 7.离子枪束斑<150μm，为深度分析提供有力工具 8.真空度好于3x10^-10mbar 返回顶部
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产品样本	此仪器尚未有相关样本返回顶部
应用范围	返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数	返回顶部此仪器尚未有用户数
技术创新	主要特点： 1. 快速可靠的ESCA分析 2. 简便的样品操作和定量分析 3. 可分析磁性材料，带电材料，粉末及不导电样品等 4. 可结合数据库进行定量分析 5. 先进的电荷中和技术，交叉的电子、离子束保证了对各种样品有效的电荷中和 6. 针对角分辨XPS进行优化 7. 样品ZalarTM旋转，使深度分析获得更好的分辨率 8. 大样品台及多样品进样设计，实现高通量分析 9. 样品可在分析位置进行升温、降温 10.关键操作可由软件控制 11.系统便于升级，可添加ISS、UPS、AES、SEM/SAM、SPM等表面分析技术 12.真正的超高真空系统返回顶部
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