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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜>日立 新型超高分辨冷...
更新时间：2024-05-06 20:51:41 点击：472次
| 产品型号 | SU9000 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 扫描电镜 |
| 品牌 | 返回顶部 日本日立 |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 分辨率 | 返回顶部 二次电子分辨率 0.4nm （加速电压30kV，放大倍率80万倍） 1.2nm （加速电压1kV，放大倍率25万倍）； STEM分辨率 0.34nm（加速电压30kV，晶格象） |
| 样品台移动范围 | 返回顶部 X ±4.0mm Y ±2.0mm Z ±0.3mm T ±40度 |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜世界最高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。 项目 技术指标 二次电子分辨率 0.4nm （加速电压30kV，放大倍率80万倍） 1.2nm （加速电压1kV，放大倍率25万倍） STEM分辨率 0.34nm（加速电压30kV，晶格象） 观测倍率 底片输出 显示器输出 LM模式 80~10,000x 220~25,000x HM模式 800~3,000,000x 2,200~8,000,000x 样品台 侧插式样品杆 样品移动行程 X ±4.0mm Y ±2.0mm Z ±0.3mm T ±40度 标准样品台 平面样品台：5.0mm×9.5mm×3.5mmH 截面样品台：2.0mm×6.0mm×5.0mmH 专用样品台 截面样品台：2.0mm×12.0mm×6.0mmH 双倾截面样品台：0.8mm×8.5mm×3.5mmH 信号检测器 二次电子探测器 TOP 探测器（选配） BF/DF 双STEM探测器（选配） 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 特点： 1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界最高分辨率：二次电子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。 2. Hitachi专利设计的E×B系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。 3. 全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。 4. 全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。 5. STEM的明场像能够调整信号检测角度，明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。 6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。 返回顶部 |
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