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最新产品 > 计量仪器 > 表面测量仪器 > 轮廓仪/粗糙度仪> NanoMap 三维轮廓仪 -500LS

更新时间:2024-04-26 23:07:04 点击:297次

产品型号 500LS
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 轮廓仪/粗糙度仪
品牌 返回顶部 NanoMap
产地 返回顶部 美国
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技术参数
垂直范围 返回顶部 55mm
最大样品厚度 返回顶部 50mm
扫描长度 返回顶部 50mm
单次扫描最大数据点 返回顶部 100-1000数据点
仪器尺寸 返回顶部 20’’ 宽X 22’’长 X 25’’高
其他信息
产品简介

 

三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。 
薄膜和厚膜的台阶高度测量 
划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量 
空间分析和表面纹理表征 
平面度和曲率测量 
二维薄膜应力测量 
微电子表面分析和MEMS表征 
表面质量和缺陷检测

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技术创新 常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合  双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图  针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。  在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察  针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm )  软件设置恒定微力接触  简单的2步关键操作,友好的软件操作界面
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