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最新产品 > 计量仪器 > 长度计量仪器 > 激光干涉仪>广东万濠 白光干涉仪 AE-100E

更新时间:2024-04-26 14:10:23 点击:363次

产品型号 AE-100E
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 激光干涉仪
品牌 返回顶部 广东万濠
产地 返回顶部 中国大陆
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技术参数
分辨率 返回顶部 1um
测量精度 返回顶部 ≤ 0.1% (量测高度:>10um) ≤10um(量测高度1um 10um) ≤ 5nm(量测高度:<1um )
测量范围 返回顶部 100(um)(400um ,选配)
电源 返回顶部 AC100 --240 V 50-60Hz
其他信息
产品简介

专业级的3D图形处理与分析软体(Post Topo)
● 提供多功能又具亲和接口的3D图形处理与分析
● 提供自动表面平整化处理功能
● 提供高阶标准片的软件自校功能
● 深度/高度分析功能提供线型分析与区域分析等两种方式
● 线型分析方式提供直接追溯ISO定义的表面粗糙度(Rorghness)与起伏度
● (waviness)的测量分析。可提供多达17种的ISO量测参数与4种额外量测数据(Wafer)
● 区域分析方式提供图形分析与统计分析。
● 具有平滑化、锐化与数字过滤波等多种二维快速利叶转换(FFT)处理功能。
● 量测分析结果以BMP等多种图形档案格式输出或是Excel文本文件格式输出
高速精密的干涉解体软体(ImaScan)
● 系统硬件搭配ImgScan前处理软件自动解析白光干涉条纹
● 垂直高度可达0.1nm
● 高度的分析算法则,让你不在苦候测量结果
● 垂直扫描范围的设定轻松又容易
● 有10X、20X、50X倍率的物镜可供选择
● 平台XYZ位置数显示,使检标的寻找快速又便利
● 具有手动/自动光强度调整功能以取得最佳的干涉条纹对比。
● 具有高精度的PVSI与高速VSI扫描测量模式供选择。
● 具有专利的解析算法则可处理半透明物体的3D形貌。
● 具有自动布补点功能
● 可自行设定扫描方向

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用户数 返回顶部 此仪器尚未有用户数
技术创新 ● 奈米深度3D检测 ● 高速/无接触量 ● 表面形状/粗糙度分析 ● 非透明/透明材质皆适用 ● 非电子束/非雷射的安全量测 ● 低维护成本
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