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最新产品 > 计量仪器 > 表面测量仪器 > 台阶仪>KOSAKA 接触式台阶仪 ET 200

更新时间:2024-05-17 00:41:43 点击:433次

产品型号 ET 200
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 台阶仪
品牌 返回顶部 KOSAKA
产地 返回顶部 日本
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技术参数
测量精度 返回顶部 1σ= 1nm
最大工件厚度 返回顶部 50mm
最大工件重量 返回顶部 2kg
最大工件尺寸 返回顶部 φ160mm
仪器尺寸 返回顶部 W494×D458×H610mm
电源 返回顶部 AC100V±10%, 50/60HZ, 300VA
其他信息
产品简介

规格
一、測定工件:
1. 最大工件尺寸:φ160mm
2. 最大工件厚度:50mm
3. 最大工件重量:2kg

二、檢出器(pick up):
1. Z方向測定範圍:Max. 600μm
2. Z方向分解能:0.1nm
3. 測定力:min.1mgf,max.50mg
4. 觸針半徑:2 μm
5. 驅動方式:直動式
6. 再現性:1σ= 1nm

三、X 軸 (基準軸):
1. 移动量(最大測長):100mm
2. 移動的真直度:0.2μm/100mm
3. 移動,測定速度:0.02 ~ 10mm/s
4. 線性尺(linar scale):分解能 0.1μm

四、Z軸:
1. 移动量:50mm
2. 移動速度:max.2mm/S
3. 檢出器自動停止機能
4. 位置決定分解能:0.2μm

五、工件台:
1. 工件台尺寸:φ160mm
2. 機械手動倾斜: ± 1mm/150mm

六、工件觀察:max.110 倍(可選購其它高倍率CCD)

七、床台:材質為花崗岩石

八、防振台(選購):落地型或桌上型

九、電源:AC100V±10%, 50/60HZ, 300VA

十、本體外觀尺寸及重量: W494×D458×H610mm, 120kg (不含防震台)

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技术创新 KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET 200配备了各种型号****,提供了通过程序控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD原位采集设计,可直接观察到****工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。
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