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更新时间：2024-04-08 16:48:48 点击：320次

产品简介
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技术参数

产品型号	SFT-110
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部 X射线测厚仪
品牌	返回顶部日本精工
产地	返回顶部日本
	返回顶部我来纠错（有奖）
技术参数
测量范围	返回顶部原子序号22（Ti）～83（Bi）
检测器	返回顶部比例计数管
滤波器	返回顶部一次滤波器：自动切换
准直器	返回顶部 ○型： 0.1mmφ、0.2mmφ　2种
对焦	返回顶部激光点（自动）
测量软件	返回顶部薄膜FP法（最多5层膜、10种元素）、标准曲线法
样品台尺寸	返回顶部 500(W) x400(D) x 150（H）mm （移动量）:X:250mm, Y:200mm
其他信息
产品简介	为了适应日益提高的镀层厚度测量需求，精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。　　近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。规格测量元素:原子序号22（Ti）～83（Bi） X射线源:空冷式小型X射线管检测器:比例计数管准直器:○型： 0.1mmφ、0.2mmφ　2种样品观察:CCD摄像头（可进行广域观察）对焦:激光点（自动）滤波器：一次滤波器：自动切换样品台（台式尺寸）: 500(W) x400(D) x 150（H）mm （移动量）:X:250mm, Y:200mm 操作部:电脑、19寸液晶测量软件:薄膜FP法（最多5层膜、10种元素）、标准曲线法数据处理:配备有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全机构:样品门连锁、样品的防冲撞功能、仪器诊断功能返回顶部
应用文章	返回顶部此仪器尚未有相关文章
产品样本	此仪器尚未有相关样本返回顶部
应用范围	返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数	返回顶部此仪器尚未有用户数
技术创新	即放即测！通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。　 10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！以最佳的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。无标样测量！将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。通过广域观察系统更方便选择测量位置！通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（最大250×200mm）中方便地指定测量位置。返回顶部
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网友评分	评分：（0名网友评分） 5星：0人 4星：0人 3星：0人 2星：0人 1星：0人返回顶部
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