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更新时间：2024-04-28 04:21:10 点击：464次

产品简介
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技术参数

产品型号	X-RAY XDL
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部 X射线测厚仪
品牌	返回顶部德国菲希尔Fischer
产地	返回顶部德国
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技术参数
其他信息
产品简介	X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型x射线光谱仪。它们是从已广受认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型系列仪器上发展而来的。与上一代相类似，它们尤其适合无损测量薄镀层厚度及材料分析，同时还能测量大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层厚度，进行镀液成分分析等。比例接收器能产生高计数率，从而使得高精度测量成为可能。由于使用了Fischer基本参数法，无论是固体的镀层系统还是液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。最多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24种元素。 XDL型X射线光谱仪有着出色的长期稳定性，如此一来，就能大幅减少校准仪器所需花费的精力。XDL系列仪器特别适用于质量控制、来料检验以及生产线监控中的测量需要。典型的应用领域有：测量大规模生产电镀零部件薄镀层检验，如装饰性铬镀层分析电子工业或半导体工业中的功能性镀层全自动测量，如印刷线路板中各个测量点的连续自动测量电镀工业中的电镀液成分分析返回顶部
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