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更新时间：2024-04-24 19:15:59 点击：679次

产品简介
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技术参数

产品型号	Compact 5 PIN
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部 X射线测厚仪
品牌	返回顶部德国ROENALYTIC(宏德)
产地	返回顶部德国
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技术参数
准直器	返回顶部单准直器：0.1mm或0.3mm或0.1*0.3mm
样品台尺寸	返回顶部 H 6 cm，W35 cm，D38cm
仪器尺寸	返回顶部 H45 cm，W40 cm，D65 cm
电源	返回顶部 110V/ 230V， 60HZ / 50HZ
其他信息
产品简介	Compact 5PIN除了轻巧的设计，半开放式测试算，可容纳大件的PCB产品，功能强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。更配备了半导体电子冷却检测器，令分辩率数倍提高，可测量非常薄的镀层，满足于半导体电子工业的应用。规格参数：高压电源:25-50KV，1.2mA X光管：钨(W)靶,光点0.5mm0.5mm 准直器：单准直器：0.1mm或0.3mm或0.10.3mm 可选四个组合：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm或50um,75um200um,150um300um,300um或特别订造样品台：可选手动(NO XY,Z60mm)和全自动( X 100mm，Ÿ85mm，Z 60mm) 样品定位：操纵杆，自动选位，激光自动对焦(需配合自动样品台) 放大倍数： 40 X / 80X 外型尺寸： H45 cm，W40 cm，D65 cm 样品室(测试箱)： H 6 cm，W35 cm，D38cm 主电源： 110V/ 230V， 60HZ / 50HZ X - MasteR：操作系统 WINDOWS 2000 / NT/XP u- MasteR：测量模式：单层、双层、三层、四层、合金层，可测元素范围：Ti-U Fun-MasteR：基本参数法(FP)校对模组，可实现标准片校对模式及无标准片校对模式 Element-MasterR：定性分析模组，一次最多可分析20种元素(针对合金材料) %-MasteR：定量分析模组，一次最多可分析20种元素(针对合金材料) Liquid-MasteR：电镀药液分析模组(针对药液主成份金属离子浓度) Data-MasteR：资料统计模组，最小值、最大值、平均值、误差，统计图表CP、CPK等 Report-MasteR：报告编辑模组，文本格式，Word格式多元合金或贵金属成色分析：K金、纯金、纯银、饰银、铜材、钢材等多层电镀厚度分析：Au/Ni/Cu/Fe/Cr/Ni/Cu/Zn等自动计算可测厚度范围返回顶部
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应用范围	返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数	返回顶部此仪器尚未有用户数
技术创新	此仪器尚未有技术创新返回顶部
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最新评论:

1楼:个人(w8bh9)

半开放式测试算，可容纳大件的PCB产品，功能强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等功能使用

评论于:2014-06-05 09:25:54

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