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更新时间：2024-04-26 17:24:34 点击：2397次

产品简介
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技术参数

产品型号	THI630
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部 X射线测厚仪
品牌	返回顶部深圳三思纵横
产地	返回顶部中国大陆
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技术参数
样品台尺寸	返回顶部 660×400×135mm
检测器	返回顶部进口半导体探测器，分辨率达139eV
滤波器	返回顶部 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰
准直器	返回顶部直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换免去人工操作烦恼
对焦	返回顶部旋钮视觉对焦
仪器尺寸	返回顶部 680×460×475mm
电源	返回顶部 AC 220V/50HZ
仪器重量	返回顶部 40Kg
其他信息
产品简介	产品简介适用于电镀、真空镀、化学镀、纳米喷镀产品的镀层测厚电子、电器、五金、线材、汽车、珠宝首饰等行业的金属镀层、无机镀膜厚度分析产品详细信息[技术参数] 探测器：进口半导体探测器，分辨率达139eV X光管：钨(W)靶，最大电压50kV，最大电流1mA 使用寿命长达5万小时高压电源：精密X射线专用电源，最高输出电压50kV 稳定度每8小时小于0.05% 滤光片： 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰准直器：直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换免去人工操作烦恼对焦系统：旋钮视觉对焦样品腔：大气样品观察：高清晰彩色CCD射线头 X射线防护：三重X射线防护(样品腔、机壳、程序控制)，低于GB16355-1996防辐射标准输入电压： AC 220V/50HZ 功耗： 260W 样品腔尺寸： 660×400×135mm 外型尺寸： 680×460×475mm 重量： 40Kg [性能指标] 可测元素：硫(S)－铀(U) 可测镀层：最多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜镀层种类：单金属、合金、无机薄膜精度：最高可达0.02um 厚度相对误差：单层8%，多层15% 厚度范围：轻金属(如：Ti、Cr等)0.01～50um 中金属(如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01～30um 重金属(如：Pt、Au、Pb等)0.01～10um 最小测量直径： 2mm 分析时间： 60～300S 返回顶部
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应用范围	返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数	返回顶部此仪器尚未有用户数
技术创新	采用进口的最新型探测器，对超低含量的元素都能探测；自动安全的高压防护电路设计；独创的光路系统，增大X射线强度，减少散射背景；紧密封闭的腔体设计、电路控制、机械控制三重X射线防护；灵活精准的分析软件，既可进行简单、快速的物质测试，满足工业化生产需求，也可通过科学的参数配置满足复杂、高精度的元素分析；采用了国际最先进、复杂的X荧光分析算法，比任何同类软件都要适应各种复杂、多样的物质分析，解决了传统X荧光分析必须依赖相同基体标样局限；对分析样品的状态、形状、大小自动进行校正，减少因制样不足而带来的误差。返回顶部
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