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最新产品 > 物理分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 原子力显微镜>Park Systems 原子力显微镜 XE-...
更新时间：2024-04-23 04:22:41 点击：391次
| 产品型号 | XE-100 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 原子力显微镜 |
| 品牌 | 返回顶部 Park Systems |
| 产地 | 返回顶部 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 分辨率 | 返回顶部 同步自动采集16幅图像，分辨率高达4096×4096像素 |
| 扫描范围 | 返回顶部 50µm×50µm（闭环），可选配100µm×100 µm（闭环） |
| 移动范围 | 返回顶部 25mm×25mm（X/Y），27.5mm (Z) |
| 样品尺寸 | 返回顶部 100mm×100mm |
| 数据传输 | 返回顶部 采用基于TCP/IP协议的通讯方式与计算机联接 |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
XE-100是Park Systems的旗舰产品。该产品可以实现精确的纳米计量和无损检测。新增的多区域自动扫描功能，更是极大的提高了检测效率。该系统可广泛的应用于材料科 学、聚合物、电化学等诸多领域。近年来，Raman HR-800和XE-100的联合系统更是帮助VLSI开拓出了对100纳米以下硅微结构进行机械性能分析的新天地。
标准工作模式： 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 一、 计量精确 XE系列AFM彻底消除了球面误差，因而具备了实现精确纳米计量的能力。 二、 扫描器线形度高，直角正交 XE系列AFM采用了柔性扫描器最大限度减小了X和Y扫描运动的交叉耦合，并且通过位移传感器及时进行反馈控制，这就有效保证了扫描的准确度和精度。 三、 非接触式扫描 可真正实现非接触式扫描是Park AFM最显著的技术优势。采用这一模式扫描时，针尖和样品间距可以保持在几个纳米，在避免针尖磨损的同时提高了成像质量。 四、 CrN样品测试结果 CrN样品具有点状尖锐的特点，是常用的AFM探针性能测试样品。如采用轻敲模式进行扫描，10次后图像质量就因针尖磨损而明显下降。在非接触扫描实验中，扫描100次后图像细节依然清晰，证明针尖没有受到损伤。 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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