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最新产品 > 化学分析仪器 > X射线仪器 > 电子探针X射线微区分析仪>日本JEOL电子探针X射线显微分析仪
更新时间：2024-04-25 03:49:19 点击：4082次
| 产品型号 | |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 电子探针X射线微区分析仪 |
| 品牌 | 返回顶部 日本JEOL |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
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| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
1.主要功能二次电子像、反射电子像、Ｘ射线像、定性分析、定量分析、线分析、面分析 2.应用范围电子探针Ｘ射线显微分析在物理化学化工地质环境冶金半导体机械材料核物理等方面广泛应用。如：超导材料半导体材料激光材料电子元器件地质样品等一系列固体试样的表面微区形貌表面微区成分定性定量表面微区成分分布的分析测试。 3.分析特点电子探针Ｘ射线显微分析它能以高的空间分辨率（二次电子分辨率6nm），可以实现同时获得测量区的微区形貌图像和相应的成分像，以及其构成元素的定性，定量分析； 返回顶部 |
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