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最新产品 > 物理分析仪器 > 光电测量仪器 > 其他光电测量仪器>德国Accurion 新一代光谱成像椭偏...
更新时间：2024-04-27 20:24:41 点击：555次
| 产品型号 | Nanofilm_EP4 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 其他光电测量仪器 |
| 品牌 | 返回顶部 德国Accurion |
| 产地 | 返回顶部 德国 |
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| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 | 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
新一代的超薄膜、表界面和材料分析测试工具，结合自动消光椭偏技术和传统显微镜技术，横向（X/Y方向）分辨率超过1微米 新一代成像椭偏仪Nanofilm_EP4具有多种独特功能，实现对超薄膜的实时可视化分析测试。你将实时看到样品微观尺度上的结构。可以测量诸如薄膜厚度、折射率和吸收系数等参数。也可以对薄膜进行区域化（选区）分析，获得所选区域的成像分析图。还可以结合其他分析测试技术对样品进行联合分析从而从样品中获取更多的信息，联用技术如原子力显微镜（AFM）、石英晶体微天平（QCMD）、反射光谱仪和拉曼光谱仪。成像椭偏仪Nanofilm_EP4是模块化薄膜分析测试平台，可根据您具体的应用方向进行差异化配置，从而实现不同的分析测试功能 返回顶部 |
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