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更新时间：2024-05-02 06:08:54 点击：829次

产品简介
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技术参数

产品型号	NanoNavi系列
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部原子力显微镜
品牌	返回顶部 SII
产地	返回顶部日本
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技术参数
其他信息
产品简介	1.可轻松的完成以往难以测定的高侧面比深槽的样品的测定搭载本公司独自开发SIS模式、可以实现对以前很难测定的，开口很小的(50nm以下)样品和测面比高的样品等深槽和狭小槽的测定。如运用SIS模式和纳米碳管探针，其威力更是倍增。闭环扫描器，彻底消除由滞后及蠕变现象造成的成像失真现象、大大提高了微区测量·微区加工的精度。做为标准配置，L-trace搭载了这种环状扫描器。做为选项配置，闭环扫描器也可用于其它的机种。 2.搭载测定导向功能，大大提高了操作的简便性搭载探针自动切换功能，降低由于误操作而引起的探针损坏机率，提高操作效率。精工纳米电子科技公司独自开发的操作导向系统，从设备准备到数据的保存印刷，准确地指导操作者完成各项操作。即使第一次上机操作，也可以轻松得进行测定。 3.丰富的自动测定功能依据菜单测定功能，可以实现扫描范围内的多点自动测定。常规的测定、重复的测定条件、繁琐的测定等，从颜色的调整到绘图的处理、解析、印刷都可简单得自动处理。返回顶部
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产品样本	此仪器尚未有相关样本返回顶部
应用范围	返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数	返回顶部此仪器尚未有用户数
技术创新	SIS模式——最适合高起伏样品，减少探针磨损测定更准确——闭环扫描器操作更简单——测定导航功能分析更方便——多点自动测定，自动解析功能返回顶部
最新动态	返回顶部此仪器尚未有最新动态
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