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最新产品 > 物理分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 原子力显微镜>日本SII 高精度大样品台...

更新时间:2024-04-19 12:12:44 点击:5061次

产品型号 L-trace
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 原子力显微镜
品牌 返回顶部 SII
产地 返回顶部 日本
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技术参数
其他信息
产品简介

滞后、蠕变影响小的闭环扫描器搭载。配合新功能SIS扫描模式及钠米碳管探针,即使是高段差的样品也可以准确的测定。标准配置的6英寸的大型样品台(8英寸样品台可选)。  

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技术创新 1.滞后、蠕变影响小的闭环扫描器搭载。测定部分的移动或是扫描方向的旋转之后,也可以得到正确的画像。
2.新功能SIS模式配合钠米碳管探针,能够正确的测定以往不易测定的急、陡断面的样品。
3.标准装配6英寸大型样品台,可对150mmφ的样品全面的观察。(200mmφ样品台为可选) 
4.搭载探针自动更换功能,测定导向功能。

5.登录模式可实现自动测定,可设定最大20个测定点及各自测定条件下的自动测定。最适合重复的测定。


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