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更新时间：2024-04-07 16:26:44 点击：1938次

产品简介
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技术参数

产品型号	QDI 2010
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部其他光谱仪
品牌	返回顶部 CRAIC Technologies
产地	返回顶部美国
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技术参数
其他信息
产品简介	QDI 2010™最先进的紫外可见近红外显微分光光度分析系统。无损测量样品的透射，反射，荧光和偏振光谱，采样面积可以小于1微米，适合做样品的显微光谱分析。测试OLED平板显示器： OLED平板显示器代表了最新显示技术。QDI系列显微分光光度计可用于开发，分析和质量控制RGB和宽带电致发光磷光体，RGB和宽带电致发光磷光体用于制造下一代新型平板显示器。 QDI 2010 TM 堪称紫外可见近红外显微分光光度计的新标准。 QDI 2010TM 能够对显微样品一次扫描完成从深紫外光到近红外光谱的采集。能够分析各种样品，从纺织品纤维到200毫米的半导体硅晶片，从纳米材料到光子晶体，无论是实验室还是工厂，QDI 2010 TM 都是理想的分析仪器。 QDI 2010™的预校正光谱仪配备科研级阵列探测器（CCD或PDA）。每个阵列探测器都可选配半导体冷却器制冷以达到最低的噪声和长期稳定性，确保仪器获得最佳信噪比。采用科研级紫外-可见光-近红外显微镜，高分辨率彩色数字成像系统，紫外屏蔽目镜，计算机服务器预装WINDOWS XP 操作系统，综合性的仪器控制／光谱分析软件包。 QDI 2010™ 操作简单，耐用，为使用者提供最优质的测试分析结果。返回顶部
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