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更新时间：2024-04-28 21:09:14 点击：428次
| 产品型号 | SMX-BEN |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 激光测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 Solar Metrology |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 | 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
1. 全球唯一能提供NIST等级的标准样品，与美国NREL共同合作。 2. 超大样品室，H:56cmXW;54cmXD74cm 3. 可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数，可设定多点分析，以确定制程品质。 4. 针对CIGS各种镀层材质的滤光片，共5种 5. X-Y-Z三轴自动定位，轴承最长距离为8”X8”X6”，并有自动聚焦弁?/div> 6. 具有表面相对等距自动调整系统 7. 采用自然光，LED白光，无色差 8. 采用最新高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器 9. 具有防撞安全装置 10. 具有操作时辐射安全装置 11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。 返回顶部 |
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