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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 激光测厚仪>日本SII X射线荧光镀层厚度测...
更新时间：2024-04-28 20:33:52 点击：449次
| 产品型号 | SFT9300M型 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 激光测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 SII |
| 产地 | 返回顶部 日本 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 其他信息 | |
| 产品简介 | 搭载了高性能X射线管，实现了高精度的测定。极微小准直管和可变焦距光学系统的组合，实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 |
·搭载了75W高性能X射线管。 ·搭载标准的Φ50μm微小准直管（最小Φ15μm）。 ·容易对微小领域进行观察。搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。 ·依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。 ·搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。 ·搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。 ·利用伺服马达精确的驱动平台。 ·运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。 返回顶部 |
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| 网友评分 |
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