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最新产品 > 物理分析仪器 > 热分析仪器 > 其他热分析仪器>林赛斯 霍尔效应测量系统 L79/HC...
更新时间：2024-04-19 23:24:41 点击：6009次
| 产品型号 | L79/HCS | ||||||||||||
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| 参考报价 | 返回顶部 面议 | ||||||||||||
| 基本规格 | |||||||||||||
| 产品类型 | 返回顶部 其他热分析仪器 | ||||||||||||
| 品牌 | 返回顶部 林赛斯 | ||||||||||||
| 产地 | 返回顶部 德国 | ||||||||||||
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| 技术参数 | |||||||||||||
| 其他信息 | |||||||||||||
| 产品简介 |
L79/HCS系统可用于半导体组件性能表征，包括:迁移率，电阻率，载流子浓度和霍尔常数。 基本型提供不同形状和温度条件下所需的样品支架。选配低温（液氮）附件结合高温炉（最高温度可达240°C）可保证所有应用领域环境条件下的测试。永磁体和电磁铁可提供高达数个特斯拉强度的固定或者可变磁场。 基于测量软件可显示的视窗内容包括I-V 和 I-R 数据图. 系统可测试多种材料包括Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N 型或P型均可测量), 金属膜, 氧化物等. 样品测试时便可完成系统功能演示
特点 • 载流子浓度 • 电阻率 • 迁移率 • 电导率 • α (水平电阻值/垂直电阻值) • 霍尔常数 • 磁致电阻
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