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最新产品 > 物理分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜>【Hitachi】 场发射透射电子显微...

更新时间:2024-05-05 17:11:22 点击:438次

产品型号 HF-3300
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 透射电镜
品牌 返回顶部 【Hitachi】
产地 返回顶部 日本
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技术参数
放大倍数 返回顶部 低倍模式 200x~500x 观测模式 2000x~1,500,000x
点分辨率 返回顶部 0.19nm
加速电压 返回顶部 300KV、200KV、100KV
样品最大倾角 返回顶部 ±15°
其他信息
产品简介

具有超高分辨和分析能力的冷场发射透射电镜
日立公司久负盛名的冷场发射电子枪和300KV高压系统相结合保证了HF-3300具有超高分辨成像和高灵敏分析能力,它具有的双重双棱镜全息摄影功能、空间分辨元素电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术为材料的研究打开了一扇新的大门。


性能参数(300KV下)
项目 描述
灯丝 单晶钨(310)冷场发射灯
加速电压 300KV、200KV、100KV
分辨率 晶格分辨率 0.10nm
点分辨率 0.19nm
信息分辨率 0.13nm









放大倍率  低倍模式 200x~500x
观测模式  2000x~1,500,000x




图像旋转  ≦±5°(观测模式,1,000,000以下)
样品倾斜  ±15° 
相机长度 300mm~3,000mm 

 



 

能谱  立体角 0.15Sr  
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用户数 返回顶部 此仪器尚未有用户数
技术创新 特点: 高亮度冷场发射电子枪冷 场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率能力保证了纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。 300KV高压系统 300KV高压系统保证了厚样品的原子分辨率图像,而在金属和陶瓷等高原子序数样品观测时由于电子透过能力弱,300KV高压更是经常需要用到。 独特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、空间分辨电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析能力。 可与FIB联用样品杆 日立公司专有的样品杆可适应FIB、TEM和STEM的使用。 简便易用的控制系统 基于Windows开发的电脑控制系统、马达驱动可动光阑、5轴马达样品台市的仪器简单易用。10分钟的升压时间和1分钟的换样时间保证了仪器高效率运转。
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