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最新产品 > 化学分析仪器 > 质谱仪 > 离子探针>ION-TOF GmbH 飞行时间二次离...
更新时间：2024-04-19 14:14:19 点击：2066次
| 产品型号 | TOF.SIMS 5 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 离子探针 |
| 品牌 | 返回顶部 ION-TOF GmbH |
| 产地 | 返回顶部 德国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 灵敏度 | 返回顶部 ppm或ppb量级 |
| 质量范围 | 返回顶部 实际测量中大于10000原子量单位 |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
仪器简介 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 1. 样品尺寸可以达到100毫米，200毫米，和300毫米。 2. 五维样品操作台 3. 多种可选择离子源：镓, 铟, 金, 铋, 氧，铯，氩，氙，SF5, C60... 4. 对分析室样品可加热和冷却控制。 5. 进样室可加热/冷却精确控温。能测量易挥发样品甚至液体。 6. 低温样品传输。 7. 可实现铯和氙的混合溅射。 8. 可实现单点成分分析，表面成分成像，深度剖析，三维分析等多种模式。 9. 采用样品电荷补偿，可以测量绝缘样品。 返回顶部 |
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| 网友评分 |
评分：
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1楼:个人(duhaibing)
可实现单点成分分析，表面成分成像，深度剖析，三维分析等多种模式。
评论于:2013-02-25 13:36:07
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