大孔径静态干涉成像光谱仪的干涉系统分析
2013-06-08 17:37:24 益择发布董 瑛 相里斌 赵葆常
( 中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学研究室, 西安710068)
摘要: 从不同方面说明大孔径静态干涉成像光谱仪的特点, 介绍其干涉系统的光学原理, 分析基于横向剪切干涉
仪的干涉系统设计思想, 讨论两种高通量大视场横向剪切干涉仪, 总结了大孔径静态干涉成像光谱仪的主要优点。
关键词: 成像光谱技术; 干涉仪; 静态; 高通量
中图分类号: O433. 1 文献标识码: A
* 863- 2 高科技资助项目。
收稿日期: 1999- 05-10; 收到修改稿日期: 1999- 12- 13
1 引 言
成像光谱技术是本世纪80 年代出现的一项融
光学、光谱学、精密机械、电子技术及计算机技术于
一体的高新科技。由于它能够获得被测目标的空间
和光谱的丰富信息, 因此在航空航天遥感、军事侦
察、科学实验、环境监测、资源勘测以及工、农业等许
多方面具有重要的应用价值。成像光谱技术目前主
要有三种类型, 即色散型、干涉型和计算层析型。其
中色散型最为成熟, 已应用于工程且已取得了很好
的效果; 计算层析型还处于研究阶段, 由于它必须以
像元数十分巨大的CCD 探测器及计算速度更快的
计算机为支持, 因而在应用上还存在一定的困难; 介
于两种之间的干涉型已处于研究新原理、新方案、设
计新仪器、研制实验室样机和初步应用阶段, 因此专
家预测, 它将成为下一代实用化成像光谱技术的代
表[ 1] 。
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