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金硅面垒型半导体探测器在α能谱测量中的应用研究

2015-04-15 09:12:37    益择发布
    针对α能谱测量需要探测器能量分辨率高、性能稳定及探测效率高等要求,选用金硅面垒型导体探测器进行α能谱测量。论述了金硅面探测器的主要性能指标及影响因素,同时针对探测器输出信号的特点以及α能谱测量要求,从理论上分析了前置放大器的类型及设计时需要注意的事项,并设计了一种实用低噪声电荷灵敏前置放大器。实测α能谱数据表明,性能满足α能谱测量要求。
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