安东帕携最新LitesizerTM 100亮相Pittcon：颗粒分析更简单
2017-04-05 13:21:132017年3月6日，一年一度的Pittcon展会(匹兹堡分析化学和光谱应用会议暨展览会)在美国芝加哥McCormick Place会展中心举办，本次展会为期5天。作为全球科学仪器行业内历史悠久、规模最大的展会，本届Pittcon2017共设1400个展位，在占地410,540平方英尺的展馆内展出全球工业、学术和政府实验室领域的产品和服务。仪器信息网作为合作媒体全程参加了本次盛会。
借此盛会，作为密度、浓度、二氧化碳和流变测量技术的引领者——安东帕公司旗下九条产品线分别携多款产品亮相展会，其中的Litesizer™ 100纳米粒度等新品更是吸引了众多的参观者驻足询问。
安东帕公司展位
为了便于各位网友更好地了解产品信息，仪器信息网编辑前往安东帕公司展位就此次重点推出的Litesizer™ 100纳米粒度进行了详细咨询。
据了解，2016年4月，安东帕的Litesizer™500纳米粒度及Zeta电位分析仪全新上市——只需按下按钮即可进行颗粒分析。作为Litesizer™500的简化版本，Litesizer™ 100的粒度测量和软件的简化都得到进一步提升。
Litesizer™ 100 是用于表征分散型样品和溶液中纳米颗粒以及微颗粒的仪器，
它可通过测量动态光散射(DLS)来测定颗粒尺寸。
纳米颗粒和微粒的尺寸和稳定性对它们的功能以及它们的加工和传输性质是至关重要的。Litesizer™100可以用来测定各种样品的粒径和透射率，快速准确地了解您的粒子系统。
Litesizer™ 100 的一大亮点是其简单而巧妙的软件。我们已创建了可将输入参数、结果和分析集中到单个页面上的一页式工作流程：您可以在数秒内完成试验设置，只需简单按键即可得出所需的分析结果和报告。
主要特点
颗粒尺寸测量：前所未有的分辨率
由于固件采用了非常先进的算法，因此可以精确测量单一悬浮液中几种不同的颗粒尺寸。
可自动测量连续的透射比
通过透光率，您可以立即获得样品反馈并自动优化测量参数(角度、聚焦位置和测量持续时间)。
简单智能的软件 - Kalliope™
Kalliope™ 提供一页式工作流，输入参数、测量和分析唾手可得。此外，Kalliope™ 完全符合 US FDA 的 21 CFR Part 11 法规要求。
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