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最新产品 > 大气探测 > 对地观测仪器 > 成像光谱仪>美国SOC 短波红外高光谱成像光谱...
更新时间：2024-04-27 00:38:45 点击：609次
| 产品型号 | SOC720 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 成像光谱仪 |
| 品牌 | 返回顶部 美国SOC |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 光谱分辨率 | 返回顶部 6.25 nm |
| 波长范围 | 返回顶部 900-1700 nm |
| 仪器重量 | 返回顶部 30 lbs. |
| 仪器尺寸 | 返回顶部 7”x14”x22” |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
技术参数 应用领域：
机械视觉
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- 电子学和塑胶 - 晶片检查 - 农业品质 - 化学过程控制 农业领域 - 精准农业 - 土地分类 - 水份胁迫 - 作物健康 温度记录 - 火点监测 - 玻璃检测 - 金属纯度 军事 - ISR - 边境安全 - 导弹跟踪 医学领域 - 血糖分析 - X线断层摄影术 |
| 应用文章 | 返回顶部
美国对地观测系统( EOS) 中分辨率成像光谱仪( MODIS) 遥感数据的特点与应用
|
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部
应用领域：
机械视觉 - 电子学和塑胶 - 晶片检查 - 农业品质 - 化学过程控制 农业领域 - 精准农业 - 土地分类 - 水份胁迫 - 作物健康 温度记录 - 火点监测 - 玻璃检测 - 金属纯度 军事 - ISR - 边境安全 - 导弹跟踪 医学领域 - 血糖分析 - X线断层摄影术 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
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