K-MAC 自动型薄膜测厚仪 ST5030-SL-益择网-专业的仪器网上选购商城

PK的排行更多

益择服务热线

021-50550642
021-61901205

最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>K-MAC 自动型薄膜测厚仪 ST5030-...

更新时间：2024-05-02 05:29:26 点击：529次

产品简介
相关配件
技术参数

产品型号	ST5030-SL
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部白光干涉测厚仪
品牌	返回顶部 K-MAC
产地	返回顶部韩国
	返回顶部我来纠错（有奖）
技术参数
应用领域	返回顶部半导体、介质材料、平板行业等
测试厚度范围	返回顶部 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
测量速度	返回顶部 1~2 sec./site
样品尺寸	返回顶部 4~12"
光斑尺寸	返回顶部 40㎛/20㎛,4㎛(option)
仪器重量	返回顶部 100Kg
仪器尺寸	返回顶部 500 x 750 x 650 mm
其他信息
产品简介	仪器简介： ·标准模型 ·工业规格 ·自动的X-Y平台 ·自动调焦 ·半导体和裂变产物探测技术参数：类型：自动测量方法：非接触式测量原理：反射计活动范围:300mm x 300mm 测量范围:100Å~ 35㎛(Depends on Film Type) 光斑尺寸:40㎛/20㎛,4㎛(option) 测量速度:1~2 sec./site (fitting time) 测量样品尺寸:4~12" 物镜转换器：Quintuple Revolving Nosepiecs 焦点： Coaxial Coarse and Fine Focus Controls 附带照明： 12v 100W Tungsten-Halogen Lamp 尺寸：500 x 750 x 650 mm 重量：100Kg 可选项目： Reference sample(K-MAC or KRISS or NIST) Anti-vibration table 应用领域：半导体:：Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS + Si, Ge, SiGe... 介质材料：SiO2, TiO2, TaO5, ITO, ZrO2, Si3N4, Photoresist, ARC,... 平板行业：(包括 LCD, PDP, OLED): a-Si, n+-a-Si, Gate-SiNx MgO, AlQ3, ITO, PR, CuPc, NPB, PVK, PAF, PEDT-PSS, Oxide, Polyimide... 光学镀膜：硬度涂层、增反射薄膜,、Color Filters、封装和功能薄膜... 太阳能电池： Doping a-Si(i-type, n-type, p-type), TCO(ZnO, SnO, ITO..) 聚合物：PVA, PET, PP, Dye, Npp, MNA, TAC, PR... Recordable materials: Photosensitive drum, Video head, Photo masks, Optical disk 其他：示波管上的光阻薄膜材料与掩膜板、金属薄膜、激光镜... 返回顶部
应用文章	返回顶部此仪器尚未有相关文章
产品样本	此仪器尚未有相关样本返回顶部
应用范围	返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数	返回顶部此仪器尚未有用户数
技术创新	测量迅速，操作简单非接触式，非破坏方式优秀的重复性和再现性 2D/3D 绘制与曲面轮廓自动平台控制以及防震台 CCD摄像头自动调焦返回顶部
最新动态	返回顶部此仪器尚未有最新动态
相关视频	返回顶部此仪器尚未有相关视频
相关耗材和配件	此仪器尚未有相关耗材和配件返回顶部
相关仪器	返回顶部此仪器尚未有相关仪器
网友评分	评分：（0名网友评分） 5星：0人 4星：0人 3星：0人 2星：0人 1星：0人返回顶部
	该产品暂无相关的供应商

最新评论:

暂无评论

网友评论:
已有0条评论

热门供应商

PK的排行更多

最新更新的同类仪器更多

益择服务热线

最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>K-MAC 自动型薄膜测厚仪 ST5030-...