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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>美国Filmetrics 薄膜厚度测量仪...
更新时间：2024-04-25 04:15:45 点击：2879次
| 产品型号 | F10-RT系列 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 白光干涉测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 美国Filmetrics |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 测试厚度范围 | 返回顶部 F10-RT：15nm-70µm；F10-RT-UV：3nm-50µm；F10-RT-NIR：100nm-100µm；F10-RT-EXR：15nm-100µm |
| 波长范围 | 返回顶部 F10-RT：380-1050nm；F10-RT-UV：200-1100nm；F10-RT-NIR：950-1700nm；F10-RT-EXR：380-1700nm |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
零配件清单如下： 光谱仪主机 FILMeasure 6.0 软件光碟 BK-7参考片 Al2O3参考片 Si参考片 Anti-reflector 拭镜纸 优势及售后服务： 拥有130多种材料的数据库 免费软件更新 工作日应用工程师24小时的技术支持 在线“手把手”支持 支持硬件升级 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | F10-RT实现了薄膜反射率/穿透率的同时测量 F10-RT反射计只需轻轻单击鼠标即可同时捕捉样品的反射率、穿透率值，仅需行业同类产品百分之几十的价格，就可以在用户自定义波长上实现反射率和穿透率值的测量，同时配有标准的FWHM和COLOR分析测序，以最大程度上满足客户的需求 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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