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更新时间:2024-04-26 09:43:57 点击:2878次

产品型号 50系列
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 白光干涉测厚仪
品牌 返回顶部 美国Filmetrics
产地 返回顶部 美国
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技术参数
其他信息
产品简介 产品技术参数:
厚度范围:
F50:15nm - 70µm;F50-UV:3nm - 70µm;F50-NIR:100nm - 250µm;F50-EXR:15nm - 250µm;F50-UVX:3nm - 250µm;F50-XT:10µm - 1mm     
波长范围:
F50:380-1100nm;F50-UV:200-1100nm;F50-NIR:950-1700nm;F50-EXR:380-1700nm;F50-UVX:200-1700nm;F50-XT:1590-1650nm
产品零配件清单:
光谱仪主机
光纤
SS-3带光纤样品台
4", 6" and 200mm参考片
TS-Si02-4-7200厚度标准片
真空泵
TH-1备有光源灯泡
镊子

优势及售后服务:
拥有130多种材料的数据库
免费软件更新
工作日应用工程师24小时的技术支持
在线“手把手”支持
支持硬件升级

常规选配件:
NIST(美国国家标准技术研究所)可追溯厚度标准片
F50夹盘-75mm, 100mm, 200mm, and 300mm
F50小光斑选项,VIS或UV


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技术创新 F50系列 自动薄膜厚度Mapping工具 F50系列产品实现了从点测量到面测量的飞跃,不但能十分快捷的测量出薄膜的厚度和光学常数,而且通过其领先的光谱反射系统能把测量结果通过图像形象的表达出来。电机驱动的r-θ极坐标平台能自动的选择测量点,数秒内即可得出测量结果。您可以从我们已设定好的十多种运行轨迹中选择—例如极性、矩形或线性轨迹,或者使用自己创建的运行轨迹,F50都可以帮你实现任意数量点的测量。整个系统仅需几分钟即可完成安装,您只需具备基本的电脑技能就可以熟练使用。
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