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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>美国Filmetrics 薄膜厚度测量仪 F3...

更新时间:2024-04-19 14:48:46 点击:2846次

产品型号 F37
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 白光干涉测厚仪
品牌 返回顶部 美国Filmetrics
产地 返回顶部 美国
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技术参数
测量速度 返回顶部 几秒钟完成测量
其他信息
产品简介

产品参数:


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应用范围 返回顶部此仪器尚未有相关应用
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技术创新 极大地提高生产力 低成本 — 几个月就能收回成本 精确 — 测量精度超过 ±1% 快速 — 几秒钟完成测量 非侵入式 — 完全在沉积室以外进行测试 易于使用 — 直观的Windows™软件 几分钟就能准备好的系统
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