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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>德国Mikropack 薄膜厚度测量仪 ...

更新时间:2024-04-01 22:07:43 点击:3055次

产品型号 NanoCal-2000
参考报价 返回顶部 面议
基本规格
产品类型 返回顶部 白光干涉测厚仪
品牌 返回顶部 德国Mikropack
产地 返回顶部 德国
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技术参数
波长范围 返回顶部 250-1100nm
测试厚度范围 返回顶部 10nm--250µm
可测层数 返回顶部 1-- 4
准确度 返回顶部 <1% (100nm--100µm)
重复性 返回顶部 0.3nm
光斑尺寸 返回顶部 400µm (选配 25100/200µm)
仪器重量 返回顶部 3.5 kg
仪器尺寸 返回顶部 180mm x 152 mm x 263mm
电源 返回顶部 12 VDC@1,2A, 220 VAC 50/60 Hz
其他信息
产品简介 仪器简介:
NanoCal是一款功能强大的膜厚测量仪器。近几年,每年的销售量都超过200台(整个世界范围)。NanoCal根据型号不同,测量范围可以从10nm到250um,它最高可以同时测量多个膜层中的10个膜层厚度(其中一层为基底材料)。NanoCal可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。
薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术,我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。

应用领域
理论上讲,我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下为我们最熟悉的应用领域(半导体薄膜,光学薄膜涂层,在线原位测量,粗糙或弧度表面测量):
晶片或玻璃表面的介电绝缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...);
晶片或玻璃表面超薄金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...);
DLC(Diamond Like Carbon)硬涂层;SOI硅片;
MEMs厚层薄膜(100µm up to 250µm);
DVD/CD涂层;
光学镜头涂层;
SOI硅片;
金属箔;
晶片与Mask间气层;
减薄的晶片(< 120µm);
瓶子或注射器等带弧度的涂层;
薄膜工业的在线过程控制;等等…

技术参数:
厚度测量:10纳米-250微米;
可以选择250nm-1100nm间任一波长,也可在该范围内选择多波长分析;
波长: 250-1100nm
厚度范围: 10nm--250µm
分辨率: 0,1nm
重复性: 0,3nm
准确率: <1% (100nm--100µm)
测试时间: 100ms -- <1s
分析层数: 1-- 4 (NanoCal-MS maybe required)
离光纤距离: 1-5mm
离镜头距离: 5mm-- 100mm
入射角度: 90°
光斑点大小: 400µm (选配 25100/200µm)
微光斑手段: 与显微镜联用,1-- 20µm with Microscope 10x/20x/50x Magnification and MFA-Adapter;
光纤长度: 2m (other lengthes on request)
接口: USB 1.1 (RS-232)
电源需求: 12 VDC@1,2A, 220 VAC 50/60 Hz
尺寸: 180mm x 152 mm x 263mm
总量: 3.5 kg
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技术创新 NanoCal-2000系列薄膜分析仪厚度分析可以基于峰的数量,也可以基于峰的形状。我们可以使用平均折射因子或者使用Cauchy numbers进行全部分析。 1、可以测量多层膜中每一层的厚度 2、三维的厚度型貌 3、可做150mm or 300mm 的大范围的扫描测试 4、远程控制和在线测量 5、丰富的材料库:操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据,基本上的常用材料都包括在这个材料库中。用户也可以在材料库中输入没有的材料。 6、软件操作简单、测速快:膜厚测量仪操作非常简单,测量速度快:100ms-1s。 7、软件针对不同等级用户设有一般用户权限和管理者权限。 8、软件带有构建材料结构的拓展功能,可对单/多层薄膜数据进行拟合分析,可对薄膜材料进行预先模拟设计。 9、软件带有可升级的扫描功能,进行薄膜二维的测试,并将结果以2D或3D的形式显示。软件其他的升级功能还包括在线分析软件、远程控制模块等。
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