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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>K-MAC 薄膜厚度测量仪 ST5000

更新时间：2024-04-22 07:52:00 点击：375次

产品简介
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技术参数

产品型号	ST5000
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部白光干涉测厚仪
品牌	返回顶部 K-MAC
产地	返回顶部韩国
	返回顶部我来纠错（有奖）
技术参数
应用领域	返回顶部半导体，电解质，平板行业等
测试厚度范围	返回顶部 100Å~ 35㎛
测量速度	返回顶部 1~2 sec./site
光斑尺寸	返回顶部 40㎛/20㎛,4㎛(option)
其他信息
产品简介	仪器简介： ·标准模式 ·工业规格 ·自动机械X-Y活动 ·自动调焦 ·防震台技术参数：类型：自动的测量方法：非接触测量原理：反射计活动范围： ~300mm x 300mm 测量范围： 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type) 光斑尺寸： 40㎛/20㎛,4㎛(option) 测量速度：1~2 sec./site(fitting time) 应用领域：半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS + Si, Ge, SiGe... 电解质: SiO2, TiO2, TaO5, ITO, ZrO2, Si3N4, Photoresist, ARC,... 平板行业：(包括 LCD, PDP, OLED, ): a-Si, n+-a-Si, Gate-SiNx MgO, Alq, ITO, PR, CuPc, NPB, PVK, PAF, PEDT-PSS, Oxide, Polyimide... 光学涂层：: 减反射膜, Color Filters... 太阳能电池 Doping a-Si(i-type, n-type, p-type), TCO(ZnO, SnO, ITO..) 聚合物: PVA, PET, PP, Dye, Npp, MNA, TAC, PR... Recordable materials: Photosensitive drum, Video head, Photo masks, Optical disk 可选： Transmittance Module Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST) 接物镜旋转器： Quintuple Revolving Nosepiecs 焦点：Coaxial Coarse and Fine Focus Controls 附带照明：12v 100W Halogen Lamp 返回顶部
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产品样本	此仪器尚未有相关样本返回顶部
应用范围	返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数	返回顶部此仪器尚未有用户数
技术创新	测量迅速，操作简单非接触式，非破坏方式优秀的重复性和再现性 2D/3D 映射和造型自动机械活动控制电荷耦合器件照相机自动调焦防震台返回顶部
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网友评分	评分：（0名网友评分） 5星：0人 4星：0人 3星：0人 2星：0人 1星：0人返回顶部
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