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更新时间：2024-04-18 04:39:03 点击：3030次

产品简介
相关配件
技术参数

产品型号	PARTS系列
参考报价	返回顶部面议
基本规格
产品类型	返回顶部白光干涉测厚仪
品牌	返回顶部美国Filmetrics
产地	返回顶部美国
	返回顶部我来纠错（有奖）
技术参数
波长范围	返回顶部 PARTS：380-1050nm；PARTS-UV：200-1100nm；PARTS-EXR:380-1700nm
测试厚度范围	返回顶部 PARTS：5nm-70µm；PARTS-UV：1nm-70µm；PARTS-EXR:5nm-70µm
其他信息
产品简介	产品介绍： PARTS利用垂直&偏角度双光源实现了更简便、更精确的薄膜测量。在已有分析能力强大的反射率-穿透率同时测量系统平台上，增加了散射率、临界入射角反射率的计算,从此无需建模即可对单层膜膜厚，光学常数n、k值进行测量!！多层膜的全面分析同样只需轻击鼠标即可轻松完成！产品零配件清单：光谱仪主机 FILMeasure 6.0 软件光碟 BK-7参考片 Al2O3参考片 Si参考片 Anti-reflector 拭镜纸产品优势及售后服务：拥有130多种材料的数据库免费软件更新工作日应用工程师24小时的技术支持在线“手把手”支持支持硬件升级返回顶部
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产品样本	此仪器尚未有相关样本返回顶部
应用范围	返回顶部此仪器尚未有相关应用
用户数	返回顶部此仪器尚未有用户数
技术创新	PARTS符合行业领先标准,极小的占地空间、通用的USB接口,确保设备安装简单便捷。整机无任何运动件，除钨卤素灯外无需其他维护，确保设备高度可靠。全面、可靠的集成得益于计算垂直(0°)入射和角度(70°)入射的反射率和穿透率，PARTS极大了提高了对高级薄膜应用场合（如：太阳能、OLEDs等行业）的分析能力。尤其，通过计算变量R0，R70，TO，我们可以简单便捷的实现膜层厚度，n、k值的测量。而且，由于增加了对散射率计算，使膜层的粗糙度测量从其它分析上分离出来，从而让我们可以实现膜层表面粗糙度的单独测量。返回顶部
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