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最新产品 > 物理分析仪器 > 其他物理分析仪器 > 白光干涉测厚仪>美国Filmetrics 薄膜厚度测量仪 ...
更新时间：2024-04-18 20:20:26 点击：2883次
| 产品型号 | F30系列 |
|---|---|
| 参考报价 | 返回顶部 面议 |
| 基本规格 | |
| 产品类型 | 返回顶部 白光干涉测厚仪 |
| 品牌 | 返回顶部 美国Filmetrics |
| 产地 | 返回顶部 美国 |
| 返回顶部 我来纠错（有奖） | |
| 技术参数 | |
| 测试厚度范围 | 返回顶部 F30：15nm-100µm；F30-UV：3nm-40µm |
| 准确度 | 返回顶部 误差低于±1% |
| 波长范围 | 返回顶部 F30：380-1050nm；F30-UV：200-1100nm |
| 其他信息 | |
| 产品简介 |
监控薄膜沉积，最强有力的工具 F30光谱反射率系统能实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数 (n 和 k 值) 和半导体以及电介质层的均匀性。 样品层 分子束外延和金属有机化学气相沉积: 可以测量平滑和半透明的，或轻度吸收的薄膜。 这实际上包括从氮化镓铝到镓铟磷砷的任何半导体材料。 返回顶部 |
| 应用文章 | 返回顶部 此仪器尚未有相关文章 |
| 产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
| 应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
| 用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
| 技术创新 | 极大地提高生产力 低成本 —几个月就能收回成本 A精确 — 测量精度高于 ±1% 快速 — 几秒钟完成测量 非侵入式 — 完全在沉积室以外进行测试 易于使用 — 直观的 Windows™ 软件 几分钟就能准备好的系统 返回顶部 |
| 最新动态 | 返回顶部 此仪器尚未有最新动态 |
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